■著者<br />米澤徹<br />陣内浩司<br /><br />■目次<br />第１章 X線回析；第２章 透過型電子顕微鏡（TEM）；第３章 走査型電子顕微鏡（SEM）；第４章 走査型プローブ顕微鏡（SPM）；第５章 化学分析；第６章 NMR；第７章 数値解析；第８章 量子ビーム研究基盤の産業活用―放射光、中性子、電子線の現状とこれから<br /><br />■シリーズ名等<br />CMC Books<br />